|
めやす |
粒径0.1umの粒子数 |
粒径0.2umの粒子数 |
粒径0.3umの粒子数 |
粒径0.5umの粒子数 |
粒径5umの粒子数 |
JIS / ISO |
USA |
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[/m3] |
[/f3] |
[/m3] |
[/f3] |
[/m3] |
[/f3] |
[/m3] |
[/f3] |
[/m3] |
[/f3] |
クラス1 |
- |
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101 |
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2 |
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クラス2 |
- |
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102 |
2 |
- |
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クラス3 |
クラス1 |
(半導体工場) |
103 |
35 |
237 |
8 |
102 |
3 |
35 |
1 |
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|
クラス4 |
クラス10 |
(国立天文台高度環境試験棟) |
104 |
350 |
2370 |
75 |
1020 |
30 |
352 |
10 |
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クラス5 |
クラス100 |
(成層圏) (国立天文台高度環境試験棟) (国立天文台先端技術センター) LCGT干渉計周辺目標値 |
105 |
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23700 |
750 |
10200 |
300 |
35200 |
100 |
29 |
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クラス6 |
クラス1000 |
|
106 |
|
237000 |
|
102000 |
|
35200 |
1000 |
293 |
7 |
クラス7 |
クラス 1万 |
(雲の上) LCGTクライオスタット組立環境 |
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352000 |
10000 |
2930 |
70 |
クラス8 |
クラス 10万 |
(高原) (病院の手術室) |
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100000 |
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クラス9 |
クラス 100万 |
(都心、工場) 神岡坑道内 |
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1000000 |
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クラス 1000万 |
(タバコを吸う人がいる会議室) |
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10000000 |
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