| 試験項目 |
内容 |
結果・現状 |
進捗 |
レポ |
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マスク位置
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マスク焦点面導入
繰り返し位置精度
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マスクの出し入れを行い、ピンホールの位置ずれを見る。
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2005年1月のテストで、10回連続で出し入れしたら、後になるほどズレは大きくなり、
最大で3ピクセル程度の回転方向のズレが生じた。
マスクを保持する機構と位置精度をだすための機構が同じため、改修が難しい。
現時点では画期的な改良はしていない。
2005年8月にはマスクをつかむ方法（ロボハンドを順に閉じる、エア圧を調整する）を試したが
かえって精度は悪くなったので、一度に掴む方法に戻した。
現在は、KAPA(ロボハンド開閉を数回繰り返す)をして、オートセンタリングによりほぼ同じ
位置にくるようにしている。
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○ |
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マスク焦点面導入
繰り返し位置精度
（姿勢差あり）
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出し入れの繰り返しによるマスク自身の固定ずれを調べる（光学系たわみと分離）。
シミュレータを使っていろいろなエレベーションでマスクの出し入れを行い、ピンホールの位置ずれを見る。
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○ |
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フレームへの
セットアップ精度
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FOCASのレーザ加工用フレームでスリットカットした後にMOIRCSのフレームに移しかえているが、
MOIRCSマスクは丸いこともあって、プレイメージとマスク位置が大きくずれる（平行・回転）ので
改善する。
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焦点面マスクフレームにセットしたままレーザ加工できるように改良中。
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開発中 |
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マスク熱収縮
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マスクの熱収縮率
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星のピンホールマスクを用いて収縮率を求める。
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検出器の焦点移動機構を動かしたら、その都度測定する。
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○ |
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繰り返し収縮精度
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同じマスクが昇温・冷却を繰り返したときに同じように収縮するかどうか確認する。
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特に大きな変化は見られない。
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○ |
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時間変化（温度変化）
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露出時間が長い場合のスリット位置のずれを調べる。マスクを焦点面に入れたまま長時間放置し
ピンホールが動いた距離を調べる。
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カルッセル冷却開始から33時間以上たてばその後はほとんど変化しないことを確認。
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○ |
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経日変化
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日をあけてピンホール＋スリットのグリッドパターンのイメージを撮り、
変化がないことを確認する。カルッセルから出したてのマスクで撮る。
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焦点面に入れた直後3時間で0.04%程度の収縮が見られるが、その後は変化なし。
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○ |
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マスク温度
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マスクが十分冷えているか確認する。
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約95Kまで冷えている。スロット位置によって多少異なる。
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○ |
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スリット加工
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レーザカッターでの加工
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FOCASレーザカッターでアルミマスクに精度のよいカットができるかどうか。
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カットはできるが、マスク加工面の高さが微妙にずれているため、一つのスリットを複数回
切る必要があって、時間が膨大にかかる。MOIRCS用の加工専用フレームを試作中。
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△ |
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加工精度（寸法精度）
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レーザに指定した寸法と実際に加工される寸法の線型性を調べる。
冷えた状態のスリットマスク画像でもチェックする。
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ほぼ線型であることは確認できた。
カット方法を変えたら、その都度測定しなおす必要がある。
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○ |
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加工精度（位置精度）
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天体の位置にピンホールをあけたマスクを作り、そのマスクイメージからピンホール位置と天体の位置のずれ量を見る。
冷却率込みの精度が十分小さければ良しとする。
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ずれの残差が〜0.05"(0.4pix)以下になっていることを確認。
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○ |
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天体導入
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天体導入シーケンス
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所要時間は約20-25分。
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○ |
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天体導入用天体
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導入用天体の明るさのめやすをたてる。
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MOIRCSプレイメージで80秒程度の露出１枚で写っていれば問題ない。
プレイメージが可視データの場合は2MASS等で写っているかどうか確認する。
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○ |
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天体導入精度
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アラインメントホールへの天体導入精度。マスク熱収縮率の見積もりと天体導入シーケンスの二つの精度が必要。
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2005年10月試験観測では、分光開始時の導入用天体とホールの中心のズレの残差は0.03"(0.25pix)程度。1pix以下になっていれば十分と思われる。
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○ |
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望遠鏡PA精度
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回転ズレは望遠鏡駆動で修正するので、どのくらいの精度がでるか確認する。
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0.04°の精度でPAを駆動できることを確認した。
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○ |
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光学系ゆがみ
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エレベーション、ローテーション、エアマスの影響の少ない位置で撮像。
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開発中 |
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赤外広視野での
大気分散補正
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MOIRCS視野にわたる大気分散量の測定をいろんなエレベーション＋ローテーションで行う。
歪み補正用視野を各フィルタを使って撮像。
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2005年12月試験観測で行った。
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解析中 |
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赤外広視野での
AGガイド相対位置
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スリットの中の赤外天体とAGガイドの可視天体の相対位置が、積分中に
エレベーションやローテーションに依ってずれてくる量を調べる。
長時間積分後に天体が天体導入時と同じ位置にいるかを確認。
各フィルタを使って撮像。
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2005年12月の試験観測で行った。
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解析中 |
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マスクデザイン
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デザインソフト
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FOCASソフトをMOIRCS用に改良したwmdp(ver.4)で試験中。Thanks to 服部さん。
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○ |
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MOS分光可能範囲
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各フィルタの分光可能視野とスペクトルの落ちる位置を確認する。
スリットをあける範囲のめやす。
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○ |
R1300
R500
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マスク交換
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交換動作
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低温の状態でマスクの出し入れを行う。
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問題なく行える。
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○ |
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交換動作
（姿勢差あり）
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観測中、EL=30°までは問題なくマスク交換できている。
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○ |
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マスク交換時間
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マスク交換にかかる時間を測定する。
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マスクを入れるだけもしくはしまうだけは約4分、マスクを交換する場合は約
5分。視野確認用としていったんスロートに待機させる場合は往復で約1分。
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○ |
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交換時のトラブル対処
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低温の状態で、交換時に考えうるトラブル（マスクのスタック等）とその対処
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2005年1月のヒロ実験で実験済み。エレベーション0°に戻してマスクの掴み直しをすることでほとんどは対処可能。
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○ |
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インターロック
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マスク交換の各動作それぞれをセンサで検出して、エラーが起こった際には
絶対に次の動作が行われないようなインターロックシステムを作る。
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ほぼ完成し、SOSSコマンドで駆動することが可能。ただし反応の不安定なセンサと制御パーツが
いくつかありトラブルは多い。トラブル発生の際は状況に応じてマニュアルで対処している。
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△ |
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マスク入れ替え
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マスクを入れ替える作業に要する時間を確認する。
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現状では、約2日(昇温7時間、冷却35時間)かかる。
入れ替え時間を短縮する努力は今後も続ける。
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○
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MOS分光性能
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ドームフラット
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ドームフラットが使えるか確認する。すばるでは赤外でドームフラットを撮っている装置がない。
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ドームフラットには大きな吸収が見られ、フラットには向かない。
CALフラットはかなり良く撮れるが、一度に照らせる視野が狭いので、位置を動かしながら何度か撮る必要がある。
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○ |
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分光時アノマリ対策
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スペクトルに対してアノマリをどう除くか。
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前後の数行を差し引くことでだいたい対処可能。今は迷光の影響のほうが大きい。
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△ |
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分光効率
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分光効率を求める。標準星を2"ロングスリットで分光。
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ほぼ仕様通り。
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○ |
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フィルタ特性
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狭帯域フィルタの特性。
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迷光による像
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熱的迷光がある。2006年7月に改修。
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対処中 |
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光学系PSF
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グリズムを通った後の星像の広がり方。光学系起因ではなく、大気分散やシーイングの影響による
波長分散のむら。天体のスペクトルの幅の変化を確認する。apallを使ってトレースする際に予想
プロファイルを入れてトレースさせることができる。これまでの画像をチェックする。
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優先度は低い。
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開発中 |
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バッドピクセル
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バッドピクセルをリストアップする。
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バッドピクセルリストはmcsredタスクにある。
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○ |
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クロストーク
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導入天体用に明るい星を使った場合のクロストークの場所と強さを調べておく。
そこを避けてスリットデザインする。
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開発中 |
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分光限界等級
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長時間分光をして分光限界等級を求める。
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2時間程度までは観測を行った。解析中。
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解析中 |
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